| 专利名称 | 用于高分子薄膜材料原位结构检测的微型伸展流变装置及其实验方法 | 申请号 | CN201310014790.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103091181A | 公开（授权）日 | 2013.05.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 李良彬;纪又新;苏凤梅 | 主分类号 | G01N3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 用于高分子薄膜材料原位结构检测的微型伸展流变装置及其实验方法 至用于高分子薄膜材料原位结构检测的微型伸展流变装置及其实验方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种用于高分子薄膜材料原位结构检测的微型伸展流变装置及其实验方法，该装置在有限的空间内实现了对高分子薄膜样品的精确控温和高速形变，同时应变和应变速率可以精确控制并连续可调；该装置采用空芯杯无刷伺服电机驱动主动轴旋转，对样品施加伸展流变；通过Labview控制程序配合电机的霍尔传感器和编码器，精确控制电机转速及位移；该装置的从动轴与微型拉力传感器相连，实时跟踪伸展流变过程中拉力的变化。本发明具有体积小、质量轻、安装方便等优点，非常适合与微焦点X射线衍射站、光学显微镜、傅立叶变换显微红外光谱仪等设备连用，是原位研究不同温度条件下高分子材料伸展流变过程中内部结构变化的一种非常好的装置。 |
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