| 专利名称 | 薄膜材料动态弯曲疲劳性能测试系统 | 申请号 | CN200820012477.1 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN201212871 | 公开（授权）日 | 2009.03.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院金属研究所 | 发明（设计）人 | 张广平;朱晓飞;张滨 | 主分类号 | G01N3/38(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N3/38(2006.01)I | 专利有效期 | 薄膜材料动态弯曲疲劳性能测试系统 至薄膜材料动态弯曲疲劳性能测试系统 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种薄膜材料动态弯曲疲劳性能测试系统，解决常规测试系 统施加载荷精度不够、试样夹持方法不当等问题。该测试系统由电磁驱动部分、 试样夹持部分和测量与观察部分组成，电磁驱动部分由电源、永久磁铁、支撑弹 簧、线圈和驱动杆组成，电源与线圈电连接，线圈内侧设置永久磁铁；试样夹持 部分由基架和夹持在其上可自由调节的夹具组成，被测试样的一端固定在水平及 高度方向可自由调节的夹具上，夹具固定在基架上，试样呈悬臂梁状态，试样的 自由端卡入预先加工好的驱动杆上不同规格尺寸的凹槽中；测量与观察部分由计 算机、与之相连的激光位移传感器和光学显微镜组成。本实用新型适于对各类薄 膜材料的疲劳性能及疲劳裂纹扩展行为进行评价。 |
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