| 专利名称 | 强度关联量子成像显微镜 | 申请号 | CN200820058514.2 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN201203565 | 公开（授权）日 | 2009.03.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 韩申生;张鹏黎;龚文林;沈夏 | 主分类号 | G01N13/16(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N13/16(2006.01)I;A61B1/00(2006.01)I | 专利有效期 | 强度关联量子成像显微镜 至强度关联量子成像显微镜 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 一种强度关联量子成像显微镜，其特点是包括一脉冲光源，该脉冲光源 发出的光束被分束器分成透射光束和反射光束，所述的透射光束方向依次是 待测物体、物臂成像透镜和物臂探测器构成的物臂，所述的反射光束方向依 次是虚拟平面、参考臂成像透镜和参考臂探测器构成参考臂，所述的物臂探 测器和参考臂探测器分别经第一数据采集卡和第二数据采集卡接计算机，该 计算机具有强度关联运算软件，该计算机通过同步信号发生器分别与所述的 脉冲光源、物臂探测器和参考臂探测器相连，所述的参考臂成像透镜具有高 数值孔径。本实用新型通过增加参考臂成像透镜的数值孔径即可以获得高分 辨率的图像。 |
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