| 专利名称 | 一种测量目标真实温度的辐射测温方法和仪器 | 申请号 | CN201210417758.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103048050A | 公开（授权）日 | 2013.04.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 肖功弼;张文生 | 主分类号 | G01J5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测量目标真实温度的辐射测温方法和仪器 至一种测量目标真实温度的辐射测温方法和仪器 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种测量目标真实温度的辐射测温方法，包括：通过三波长辐射测温仪获取三个波长对应的实测亮温Tsi、目标的近似真温T以及三个比色温度Tci，三个波长为等间隔；根据实测亮温Ts1、Ts2、Ts3以及近似真温T的数值，确定目标在三个波长下的发射率ελ１、ελ2、ελ3；根据计算出的目标在三个波长下的发射率值及近似真温T值，计算目标对应三个波长的比色温度Tci’；根据实测比色温度与计算比色温度，求得均方差之和∑ΔT2；利用改变(Δ＝1)后的近似真温的值进一步计算发射率以及比色温度值，进一步求得实测比色温度与该计算比色温度的均方差，比较两个均方差的大小，直至均方差之和最小时，即找到实际真温值T真。利用本发明的方法，可测得目标的真实温度。 |
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