| 专利名称 | 移相横向剪切干涉仪 | 申请号 | CN200720073974.8 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN201096526 | 公开（授权）日 | 2008.08.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 王利娟;刘立人;孙建锋;周煜 | 主分类号 | G01J9/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/02(2006.01)I;G01B9/02(2006.01)I;G02B7/18(2006.01)I | 专利有效期 | 移相横向剪切干涉仪 至移相横向剪切干涉仪 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 一种移相横向剪切干涉仪，由第一起偏器、输入平行平板、第二起偏器、第三 起偏器、第一剪切平板、第二剪切平板、输出平行平板、四分之一波片、检偏器、 CCD相机和计算机组成，该移相横向剪切干涉仪为等光程干涉光学系统，剪切量连 续可调，非常适合于短相干长度光束的波前测量，能满足不同光束口径和测量精度 要求的波前检测。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障