| 专利名称 | 一种脚型参数测量装置及测量方法 | 申请号 | CN201110373179.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102525034A | 公开（授权）日 | 2012.07.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 周旭;王俊青;程涛军;孙怡宁;李文;占礼奎;马祖长;杨先军;姚志明;何江南 | 主分类号 | A43D1/02(2006.01)I | IPC主分类号 | A43D1/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种脚型参数测量装置及测量方法 至一种脚型参数测量装置及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种脚型参数测量装置及测量方法，装置包括封装箱体、计算机，以及分别嵌入封装箱体中的足底扫描测试平台、多个摄像头、带有光栅的点光源。本发明通过实际集成化设备，将平面扫描仪，点光源和两个摄像头设备有机结合，形成一个脚型参数测量装置，直接提供完整的足部特征位置、数据信息以及三维重构的足部模型。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障