| 专利名称 | 单孔径多重成像的光学成像测距装置 | 申请号 | CN200620047908.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN201043890 | 公开（授权）日 | 2008.04.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 阳庆国;刘立人;栾竹;刘德安;孙建锋 | 主分类号 | G01C3/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C3/00(2006.01)I;G01C3/08(2006.01)I;G02B27/00(2006.01)I | 专利有效期 | 单孔径多重成像的光学成像测距装置 至单孔径多重成像的光学成像测距装置 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 一种单孔径多重成像的光学成像测距装置，其特征在于构成：同光 轴地依次包括成像主透镜、多重成像元件、场镜和光电探测器，该光电 探测器的输出端接数字图像处理器，所述的成像主透镜与多重成像元件 紧贴在一起，所述的数字图像处理器用于处理由光电探测器采样的数字 图像，提取物体的深度信息的数据处理软件。本实用新型只需单次成像， 即可获得完备的成像，而且系统结构紧凑，易于装配，不需要复杂的相 机定位和标定，测距算法简单，可快速地获得物体的深度信息。 |
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