| 专利名称 | 基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统 | 申请号 | CN200620136104.6 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN200965488 | 公开（授权）日 | 2007.10.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 马臻;樊学武;陈荣利;李英才 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01) | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01);G01M11/00(2006.01) | 专利有效期 | 基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统 至基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种杂光系数测试系统，尤其是一种基于计算全息元件的大口径杂光系数测试系统。其技术解决方案为：该系统包括激光器、大口径平行光管、计算机全息光学元件和可测量光照度的照度计，所述激光器、大口径平行光管、计算机全息光学元件依序设置在同一光路上。解决了普通技术中存在的测试负载、实现难度大的技术问题。 |
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