| 专利名称 | 全深度探测的频域光学相干层析成像装置 | 申请号 | CN200620043657.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN2916623 | 公开（授权）日 | 2007.06.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 步鹏;王向朝 | 主分类号 | G01N21/45(2006.01) | IPC主分类号 | G01N21/45(2006.01);A61B5/00(2006.01) | 专利有效期 | 全深度探测的频域光学相干层析成像装置 至全深度探测的频域光学相干层析成像装置 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 一种全深度探测的频域光学相干层析成像装置，包括低相干光源，在该低相干光源的照明方向上顺次放置准直扩束器、迈克尔逊干涉仪，该迈克尔逊干涉仪的分光器将入射光分为探测臂光路和参考臂光路，参考臂光路的末端为参考反射镜，探测臂光路的末端为被测样品，被测样品放置在一个三维精密平移台上，迈克尔逊干涉仪输出端连接一光谱仪，该光谱仪通过图像采集卡和计算机连接，该装置的特点是所述的参考反射镜连接一正弦相位调制装置。本实用新型与现有技术相比具有抗环境干扰能力强，对光源波长无关和系统结构简单的优点。 |
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