| 专利名称 | 一种浊度测量方法及装置 | 申请号 | CN201010504164.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102445437A | 公开（授权）日 | 2012.05.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 祁志美;刘桥;刘瑞鹏 | 主分类号 | G01N21/49(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/49(2006.01)I | 专利有效期 | 一种浊度测量方法及装置 至一种浊度测量方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种浊度测量方法及装置，涉及浊度探测技术，该方法是采用一束平行光照射待测环境，并探测其光路中的多个位置的90度散射光功率，通过对探测值的数学处理，获得待测环境的浊度值。该方法的测量装置，封装为探头形式，包括壳体，平行光发射系统，光电接收系统，信号处理电路。其光路结构在任何条件下都满足90度散射探测，并可缩小装置体积。本发明消除了光源的不稳定性对测量的影响，降低了温度误差和窗口污染对浊度测量的干扰，延长了人工清洁维护周期，提高了测量精度。测量装置体积小，功耗低，灵敏度高，抗干扰能力强，符合ISO7027标准，安装调试方便，可应用于多种环境的浊度测量及智能监测。 |
1、源头对接，价格透明
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