| 专利名称 | 半导体激光器热弛豫时间的测试装置 | 申请号 | CN200520042281.3 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN2828834 | 公开（授权）日 | 2006.10.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 陈晨;辛国锋;方祖捷 | 主分类号 | G01R31/26(2006.01) | IPC主分类号 | G01R31/26(2006.01);H01L21/66(2006.01) | 专利有效期 | 半导体激光器热弛豫时间的测试装置 至半导体激光器热弛豫时间的测试装置 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 一种半导体激光器热弛豫时间的测试装置，该装 置的构成是：一脉冲电源，该脉冲电源的输出端接半导体激光 器，沿该半导体激光器的激光前进方向依次是准直系统和光谱 仪，光电倍增管位于所述的光谱仪的输出狭缝，光电倍增管的 输出端接Boxcar积分器的输入端，所述的脉冲电源的同步输 出端经过延时电路连接Boxcar积分器的触发输入端，计算机 输入端数据采集卡连接Boxcar积分器输出端。本实用新型的 优点是：不需测试激光器阈值电流和斜率效率随结温的变化关 系；装置造价低，容易搭建，方法简单、稳定性好。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
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