| 专利名称 | 基于面阵探测器的多通道低杂散光光谱仪 | 申请号 | CN201110028388.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102175324A | 公开（授权）日 | 2011.09.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 郝鹏;吴一辉;黎海文 | 主分类号 | G01J3/44(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/44(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I | 专利有效期 | 基于面阵探测器的多通道低杂散光光谱仪 至基于面阵探测器的多通道低杂散光光谱仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 基于面阵探测器的多通道低杂散光光谱仪属于光谱分析仪器领域，该光谱仪包括光学平台和光信号采集处理装置两部分，其特征在于，光学平台采用多通道面阵探测器，在其中某一通道的窗口上，通过图形化镀膜的方法，加工形成沿光谱分布方向分布的若干个带阻滤光片，进行实时测量探测器各个区域所接收到的杂散光变化情况，利用此通道作为参考通道，实现对整个光谱分析仪杂散光的实时有效校正。本发明有效的校正了光谱分析系统全波段范围内的测量杂散光，可应用于待测样品光谱特征、吸光度值等各光色参数的测量方面。 |
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