| 专利名称 | 八分之一波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置和方法 | 申请号 | CN201110027496.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102175430A | 公开（授权）日 | 2011.09.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 朱玲琳;张佩;鲍建飞;蔡舒窈;肖艳芬;曾爱军;黄惠杰 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 八分之一波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置和方法 至八分之一波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置和方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种八分之一波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置和方法，该装置由准直光源、圆起偏器、衍射光栅、聚焦透镜、衰减器、检偏器阵列、光电探测器阵列和信号处理系统组成，本发明能实时地测量八分之一波片的相位延迟量和快轴方位角，而且测量结果不受光源光强波动的影响。 |
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