| 专利名称 | 一种使用双列直插封装芯片的电路板的调试装置 | 申请号 | CN200420122525.4 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN2760568 | 公开（授权）日 | 2006.02.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 曹松;陈斌;沈卫华;陈小敏;孙辉先 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01) | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01);G01R31/28(2006.01) | 专利有效期 | 一种使用双列直插封装芯片的电路板的调试装置 至一种使用双列直插封装芯片的电路板的调试装置 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种使用双列直插封装芯片的 电路板的调试装置，包括固定插针插座，插针和活动插针插座； 所述固定插针插座为通用的双列直插插座，所述活动插针插座 有可拔出的插针，所述固定插针插座的插针上有供双列直插封 装的集成电路芯片插入的插孔。测量时，拔出的插针的管脚悬 空，且不与固定插座接触，电路阻断，所以应用该装置，无论 是对集成电路芯片还是印刷电路板都没有破坏，从而提高了电 路板的调试效果，避免了由于调试引入的对芯片或电路板的破 坏，减少了多次制板的费用；并可以准确定位故障发生的位置； 此外，悬空的芯片管脚易于示波器和逻辑分析仪的探头固定， 利于测量。 |
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