| 专利名称 | 一种基于投影残差的分类方法 | 申请号 | CN201110098940.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102298703A | 公开（授权）日 | 2011.12.28 | 申请（专利权）人 | 中科院成都信息技术有限公司 | 发明（设计）人 | 于传帅;张景中;冯勇;谭治英;徐可佳;曾丽 | 主分类号 | G06K9/62(2006.01)I | IPC主分类号 | G06K9/62(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于投影残差的分类方法 至一种基于投影残差的分类方法 | 法律状态 | 著录事项变更 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于投影残差的分类方法，包括如下步骤：步骤一、改变测试样本中每个物体k的图像集合Ik，使图像集合Ik成为互相正交的、低维的特征图像空间FIk；步骤二、提取每个互相正交的、低维特征图像空间FIk的主成分Vk，j；步骤三、计算待测试图像x的映射到每个特征图像空间FIk的投影残差；步骤四、判断在某个物体的特征图像空间的投影残差最小，待测试图像x即为该投影残差最小的物体的图像。本发明相对于现有技术，首先该分类方法直接寻找最近的特征图像空间，能够对多类问题直接进行识别，速度快，识别率高；其次，当将流行学习方法添加到非线性特征映射来改变测试样本中物体的图像集合时，能在训练样本较少的情况下提高识别率，识别效果稳定。 |
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