| 专利名称 | 双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置 | 申请号 | CN200420090577.8 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN2727699 | 公开（授权）日 | 2005.09.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 程兆谷;高海军 | 主分类号 | G01B9/02 | IPC主分类号 | G01B9/02;G01B11/02;G01P3/36 | 专利有效期 | 双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置 至双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量装置 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 一种双频激光干涉仪测量速度的自由落体测量 装置，包括一双频激光器，在该激光器的输出光路上设置一偏 振分光镜，该偏振分光镜的分光面与激光器的输出光路成45 °，在该偏振分光镜透射光方向是一固定角锥棱镜，反射光方 向是一移动角锥棱镜，在该偏振分光镜的输出光方向、双频激 光器的同侧还有一探测器，其特征在于所述的移动角锥棱镜通 过其镜座固定在一滑块上，该滑块设置在导轨上，该导轨安装 在导轨底座上并与重力方向严格一致。本实用新型装置对双频 激光干涉仪测量速度测量具有较好的准确性、测量速度范围 大、测量装置简单、方法简便和经济等一系列优点。 |
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