| 专利名称 | 一种基于压缩感知的电磁逆散射成像方法 | 申请号 | CN201110253480.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102955159A | 公开（授权）日 | 2013.03.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 向寅;李芳;洪文;张冰尘;吴一戎 | 主分类号 | G01S17/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S17/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于压缩感知的电磁逆散射成像方法 至一种基于压缩感知的电磁逆散射成像方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于压缩感知的电磁逆散射成像方法，涉及微波成像技术，包括：步骤一、微波激励与测量阶段，在目标外用微波对目标进行穿透照射，测量目标的散射回波，从而去感知目标内部结构和材质；步骤二、目标建模阶段，建立目标介电常数和散射回波间的非线性观测模型，建立描述目标内部结构稀疏性的表征模型；步骤三、计算成像阶段，使用目标模型和压缩感知处理方法对目标的介电常数分布成像，由于不同介电常数对应目标的不同组成材料，故成像结果作为目标内部结构的表征。相对于传统微波成像方法，本发明使用压缩感知处理技术，显著降低回波观测数据量，同时显著提高目标内部结构的成像清晰度。 |
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