| 专利名称 | 镁合金熔体凝固晶粒尺寸的热分析检测方法与装置 | 申请号 | CN201110276862.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102998324A | 公开（授权）日 | 2013.03.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院金属研究所 | 发明（设计）人 | 陈荣石;梁松茂;马跃群;韩恩厚;柯伟 | 主分类号 | G01N25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N25/00(2006.01)I;G01N15/02(2006.01)I | 专利有效期 | 镁合金熔体凝固晶粒尺寸的热分析检测方法与装置 至镁合金熔体凝固晶粒尺寸的热分析检测方法与装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种镁合金熔体凝固晶粒尺寸的热分析检测方法与装置，属于镁合金熔体处理和铸造凝固领域。该方法采用定量镁及镁合金熔体，浇入取样杯中冷却，在镁合金熔体冷却的过程中，采用两根热电偶分别测定凝固过程熔体中心和边沿的温度，用温度采集装置采集温度数据，计算机程序记录熔体凝固过程熔体中心和边沿温度随时间的变化，再通过热分析检测方法确定枝晶相干点固相分数，并与标准值比较，判定变质处理、晶粒细化处理或添加合金元素对镁合金晶粒尺寸的细化或粗化效果。本发明并不要求凝固过程中的热分析冷却曲线中出现再辉，特别适合凝固潜热释放较小的镁合金，在较宽凝固速度范围内能够表征变质效果，预报凝固晶粒尺寸。 |
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