| 专利名称 | 双调制光源全光纤位移测量仪 | 申请号 | CN01253677.6 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN2506975 | 公开（授权）日 | 2002.08.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 王向朝;步扬;王学锋 | 主分类号 | G01B9/02 | IPC主分类号 | G01B9/02 | 专利有效期 | 双调制光源全光纤位移测量仪 至双调制光源全光纤位移测量仪 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 一种双调制光源全光纤位移测量仪,包括两个被 调制的原光源。两原光源发射的调制光束经过全光纤连接的三 个环形器和两个光纤耦合器分别到达参考反射元件和被测物 体。由参考反射元件和被测物体反射回来的光束在光纤耦合器 中产生干涉。光电转换元件将接收到的干涉信号转换为电信号, 一路经过数模转换器送到计算机。另一路经过反馈控制电路分 别送到第一驱动电源和第二驱动电源。本实用新型与在先技术 相比,本实用新型采用了光热光频调制,采用了全光纤代替在先 技术中的透镜、分束器等光学元件,所以,本实用新型体积小,重 量轻,结构紧凑,抗干扰能力强,测量精度高,测量范围由在先技 术的数百纳米扩大到厘米量级。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障