| 专利名称 | 原位准同步检测微纳结构物化特性的方法 | 申请号 | CN201110062649.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102183679A | 公开（授权）日 | 2011.09.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 孔德义;赵贵;程玉鹏;陈池来;李庄;刘英;李加伟;唐敏;殷世平;王焕钦 | 主分类号 | G01Q60/24(2010.01)I | IPC主分类号 | G01Q60/24(2010.01)I;G01N27/68(2006.01)I | 专利有效期 | 原位准同步检测微纳结构物化特性的方法 至原位准同步检测微纳结构物化特性的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及对材料表面微纳结构进行物化特性的检测方法，具体涉及在大气环境下采用AFM-IMS或AFM-FAIMS联用技术，原位准同步检测微纳结构物化特性的方法。先在原子力显微镜上对被测样品进行扫描成像得到物理特性数据后，利用电晕放电，使样品的化学物质脱附并离化为带电离子，再利用微型机电接口装置以迁移电场或使用人工气流的方式将带电离子送入离子迁移谱仪或高场不对称波形离子迁移谱仪中进行分离检测，确定化学成分。本发明能够将样品的物理特性和化学成份直接对应起来分析，具有原位（准）同步定点分析微纳结构的功能，整个过程在大气环境下进行，对样品限制低，分析测试效率大为提高，操作方便灵活，体积成本较低，便于在材料分析测试领域中普及推广使用。 |
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