| 专利名称 | 用于惯性约束聚变装置全光路像差的测量和校正方法 | 申请号 | CN200710176882.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101162294 | 公开（授权）日 | 2008.04.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 敖明武;杨平;蔡冬梅;杨泽平;饶长辉;姜文汉 | 主分类号 | G02B26/06(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B26/06(2006.01)I | 专利有效期 | 用于惯性约束聚变装置全光路像差的测量和校正方法 至用于惯性约束聚变装置全光路像差的测量和校正方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 用于惯性约束聚变装置的全光路像差的测量和校正方法，将哈特曼波前传感器放置在 激光放大器之后的光路中探测近场波前，将反射变形镜放置在哈特曼波前传感器之前的光 路中，将CCD放置在全光路远场，以探测焦斑强度分布，动态像差由哈特曼波前传感器直 接测量，静态相差由反射变形镜、哈特曼波前传感器和远场CCD相互配合共同测量，当驱 动反射变形镜，哈特曼波前传感器记录下变形镜调制的不同波前，同时远场CCD记录下相 应的远场强度；根据记录下的不同近场调制波前和相应的远场强度数据对，利用迭代算法 计算出惯性约束聚变装置全光路静态像差，驱动反射变形镜将该像差校正。本发明实现了 ICF装置全光路像差的测量和校正。 |
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