| 专利名称 | 声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试装置 | 申请号 | CN201020269873.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN201749021U | 公开（授权）日 | 2011.02.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 沈渊婷;杨世骥;何志平;袁立银;王建宇;舒嵘 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试装置 至声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试装置 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试装置。该装置由单色光源系统、光信号调制系统、光学系统及光电探测系统组成。单色光源系统可生成波长连续可调的单色光束，通过光阑孔后由斩光器对其进行频率调制，交流光信号依次经由准直镜、起偏器、滤光片形成单波长准直偏振光，并垂直入射AOTF；由棱镜将会聚后的0级光及驱动后产生的衍射光折转不同方向，分别由两个光电探测器接收，从而分析AOTF的衍射性能。本发明装置原理简单、可操作性强，可满足AOTF测试连续波长的需求，同时通过自动控制软件可大幅提高测试效率。针对AOTF在弱光下的应用需求，利用锁相电路实现弱光条件检测，提高测试精度。该系统实现0级光和衍射光的独立测试，提高测试准确性。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障