| 专利名称 | 一种超导线圈失超检测方法 | 申请号 | CN200710175335.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101126787 | 公开（授权）日 | 2008.02.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 张正臣;李晓航 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01K7/18(2006.01)I | 专利有效期 | 一种超导线圈失超检测方法 至一种超导线圈失超检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种超导线圈失超检测方法，其特征在于实时监测超导线圈绕组的温度，把时间上前 后相邻的温度的差值除以温度监测时间间隔，得到失超检测量——温升速率，把温升速率 与温升速率阈值进行比较，一旦超过温升速率阈值，即可判断线圈失超。温升速率阈值的 确定方法是同时监测超导线圈失超过程中失超点附近的电压和温度，并把温度转化为温升 速率，当电压升高到1μV/cm时，线圈失超，此刻失超点两侧的温升速率的平均值即为温 升速率阈值。本发明更接近物理现象的本质，检测速度快、灵敏度高，适用于低温超导(NbTi、 Nb3Sn、MgB2)线圈和高温超导(Bi2223、YBCO)线圈。 |
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