一种硅基侧栅单电子晶体管及其制作方法

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专利名称 一种硅基侧栅单电子晶体管及其制作方法 申请号 CN200610109561.0 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN101123272 公开(授权)日 2008.02.13 申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 龙世兵;王琴;李志刚;刘明;陈宝钦 主分类号 H01L29/78(2006.01)I IPC主分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 专利有效期 一种硅基侧栅单电子晶体管及其制作方法 至一种硅基侧栅单电子晶体管及其制作方法 法律状态 授权 说明书摘要 本发明公开了一种硅基侧栅单电子晶体管,该单电子晶体管包括:库 仑岛、位于库仑岛两侧的源和漏、连接库仑岛与源的隧道结、连接库仑岛 与漏的隧道结、位于库仑岛侧面的栅介质和侧栅、源上沉积的源电极、漏 上沉积的漏电极、以及侧栅上沉积的侧栅电极。本发明同时公开了一种硅 基侧栅单电子晶体管的制作方法。利用本发明,提高了单电子晶体管的可 靠性及与传统CMOS工艺的兼容性,简化了制作工艺,降低了制作成本, 提高了制作效率。

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