| 专利名称 | 一种校正质谱仪器和/或分子质量的方法 | 申请号 | CN201110392477.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102507722A | 公开（授权）日 | 2012.06.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院化学研究所 | 发明（设计）人 | 陈义;李晋成;马力坡 | 主分类号 | G01N27/64(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/64(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I | 专利有效期 | 一种校正质谱仪器和/或分子质量的方法 至一种校正质谱仪器和/或分子质量的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种校正质谱仪器和/或分子质量的方法。该方法包括如下步骤：在基底上蒸镀金膜，在所述质谱仪器中用激光轰击所述金膜；或者在所述金膜上涂覆基质、待测样品或基质与待测样品的混合物后，在所述质谱仪器中用激光轰击所述涂覆待测样品的金膜、涂覆所述基质的金膜或涂覆所述基质与待测样品的混合物的金膜，将得到的离子经所述质谱仪器分析得到质谱谱图，根据金簇的理论质量即可对质谱仪器和/或待测样品的分子质量进行校正。本发明提供的方法可以分别进行正和负电荷校正；由于利用了没有同位素的金簇，可以记录到一系列质荷比相差197的离子峰，再利用金的准确的理论质量，可以准确标定质谱仪器信号和样品的分子质量，其偏差可以降到5ppm以下。 |
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