| 专利名称 | 全光场偏振像差检测装置及检测方法 | 申请号 | CN201210091180.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102607819A | 公开（授权）日 | 2012.07.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 曹绍谦;步扬;步鹏;王向朝;张敏;汤飞龙;李中梁 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 全光场偏振像差检测装置及检测方法 至全光场偏振像差检测装置及检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种全光场偏振像差检测装置及检测方法。该装置包括：全偏振态发生器PSG、全偏振态分析器PSA及信号处理和控制系统。该检测方法包括：改变法拉第旋转器上加载偏控电压的大小，进行第一次测量；改变法拉第旋转器上加载偏控电压的大小，进行第二、三、四次测量；根据算法对四次测量结果进行处理。本发明具有装置结构简单、共光轴且稳定、测量无需机械转动、算法简单、高空间分辨率且测量速度较快的特点。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障