一种导电通道可控性形成的阻变式存储器及其制备方法

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专利名称 一种导电通道可控性形成的阻变式存储器及其制备方法 申请号 CN201210104177.7 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN102623637A 公开(授权)日 2012.08.01 申请(专利权)人 中国科学院物理研究所 发明(设计)人 张玉;李洁;陈莺飞;王宁;邓辉;吴玉林;赵璐;郑国林;崔丽敏;郭乃理;蒋凤英;金贻荣;田海燕;郑东宁 主分类号 H01L45/00(2006.01)I IPC主分类号 H01L45/00(2006.01)I 专利有效期 一种导电通道可控性形成的阻变式存储器及其制备方法 至一种导电通道可控性形成的阻变式存储器及其制备方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 一种导电通道可控性形成的阻变式存储器的制备方法包括以下步骤:1)制备氧化物薄膜,在基片上沉积设定厚度的氧化物薄膜;2)对氧化物薄膜进行离子辐照:入射的离子束沿垂直方向穿透所述氧化物薄膜到达所述基片中,并在氧化物薄膜中形成若干条导电通道;3)制备顶电极:在经过所述离子辐照后的氧化物薄膜的上表面上制备顶电极。本发明还包括通过上述方法制成的阻变式存储器。

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