| 专利名称 | 亚毫米级线性调谐激光测距系统 | 申请号 | CN201120397641.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202281835U | 公开（授权）日 | 2012.06.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 张锟峰;舒嵘;吴世辉;凌元;龙启强;洪光烈;胡以华;徐显文 | 主分类号 | G01S17/36(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S17/36(2006.01)I | 专利有效期 | 亚毫米级线性调谐激光测距系统 至亚毫米级线性调谐激光测距系统 | 法律状态 | 著录事项变更 | 说明书摘要 | 本专利公开了一种亚毫米级线性调谐激光测距系统，它应用于激光测距。本专利的系统由线性调谐半导体激光器、90:10光纤耦合器、发射准直镜、极化偏振分束镜、λ/4波片、接收准直镜、4个50:50光纤耦合器、2个平衡探测器、参考延时光纤、数据采集模块和信号处理程序模块构成。本专利的亚毫米级线性调谐激光测距系统是基于大范围线性调谐激光脉冲信号，采用零差相干探测及平衡探测技术，最后利用特殊的信号处理程序，计算得出目标的距离信息，优点是系统大部分基于光纤器件，稳定性高，结构简单，探测灵敏度高，作用距离远，测距分辨率可以达到亚毫米级。 |
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