| 专利名称 | 一种测试外壳电路及其设计方法 | 申请号 | CN200610090243.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101102232 | 公开（授权）日 | 2008.01.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 李佳;胡瑜;李晓维 | 主分类号 | H04L12/26(2006.01)I | IPC主分类号 | H04L12/26(2006.01)I;H04B17/00(2006.01)I;H04M3/24(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测试外壳电路及其设计方法 至一种测试外壳电路及其设计方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种测试外壳电路，包括至少一条用于测试待测芯核测 试数据的测试外壳寄存器链，连接所述测试外壳寄存器链与待测芯核之间 的互连电路，和连接所述测试外壳寄存器链与外部数据通路之间的互连电 路。本发明同时公开了一种测试外壳电路的设计方法。利用本发明，实现 了对测试外壳电路的设计，不仅提供了传统测试外壳的测试访问功能，而 且根据片上网络测试数据传输的特点进行了优化设计，充分利用了网络通 道的带宽，提高了测试的并行性，缩短了测试时间，减少了测试所需的引 脚数以及测试面积的开销，降低了测试成本。 |
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