| 专利名称 | 一种用于芯片数据分析的可视化分析和展示方法 | 申请号 | CN200610028348.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101097585 | 公开（授权）日 | 2008.01.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海生命科学研究院 | 发明（设计）人 | 金刚;王超;谢松旻 | 主分类号 | G06F19/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G06F19/00(2006.01)I;G06F17/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于芯片数据分析的可视化分析和展示方法 至一种用于芯片数据分析的可视化分析和展示方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基因芯片数据的可视化分析和展示方法，它能提供直观的 芯片可视化方法，能方便展示大规模的芯片数据。其技术方案为：该方法包括：(1) 第一次利用自组织映射的神经网络来模拟和学习芯片数据；(2)利用组成分平面 来展示步骤(1)得到的单个芯片/样本的数据，将所述神经网络中的多维神经元载 体的单个组成分分离出来，同时用二维平面展示经步骤(1)学习到的数据结构； (3)第二次利用自组织映射的神经网络来学习多个样本之间的关系，并利用最佳 匹配单元原理将学习到的组平面/样本关系投射到二维空间，同时展示数据中样本 和基因之间的关系。本发明应用于大规模基因芯片数据分析技术领域。 |
1、源头对接，价格透明
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