| 专利名称 | 基于五轴数控系统的工件测量系统 | 申请号 | CN201110197730.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102275093A | 公开（授权）日 | 2011.12.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 发明（设计）人 | 赵吉宾;刘其广;刘伟军;李家智;颜悦;吕杰;于彦凤 | 主分类号 | B23Q17/00(2006.01)I | IPC主分类号 | B23Q17/00(2006.01)I;B23Q17/20(2006.01)I | 专利有效期 | 基于五轴数控系统的工件测量系统 至基于五轴数控系统的工件测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明的目的在于针对现有技术中存在的数控系统各轴的运行数据采集实时性不强，采集系统实现复杂以及不具备通用性和扩展性的问题，提出了基于五轴数控系统的工件测量系统。计数装置采集数控机床各轴电机编码器的编码器反馈信号；位移传感器安装在数控机床刀具装夹部位，替换刀具，检测位移传感器到工件表面的位移信号并传送至工控机中；工控机定时读取编码器反馈信号和位移信号，对编码器反馈信号和位移信号进行数据处理，得到工件的三维点集。本发明的测量系统实时性好，具备通用性和扩展性，硬件连接简便可靠，便于使用和操作，测量精度高。 |
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