| 专利名称 | 基于光束相干合成的相位调制器性能参数测试装置 | 申请号 | CN201210485286.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102998094A | 公开（授权）日 | 2013.03.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 谭毅;耿超;罗文;刘红梅;武云云;李新阳 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 基于光束相干合成的相位调制器性能参数测试装置 至基于光束相干合成的相位调制器性能参数测试装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于光束相干合成的相位调制器性能参数测试装置，该装置包括激光器（1），1×2光纤分束器（2），第一、第二、第三、第四光纤，相位调制器（4），第一、第二光纤准直器，合束透镜（6），分光棱镜（7），第一、第二显微物镜，数字相机（9），针孔（10），光电探测器（11），频响仪（12）和计算机（13）。本发明简化了相位调制器性能参数的测量；而且该测试装置能测量所有带有光纤接口的相位调制器；同时，该平台还具有能粗略估计和精确测量谐振频率的功能，在精度要求不高时，可通过数字相机观察远场光斑对比度简单快捷地获得谐振频率，在精度要求较高时，可通过分析计算光电探测器采集到的信号获得较精确的谐振频率。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障