| 专利名称 | 饱和吸收消多普勒加宽谱线的装置 | 申请号 | CN201210517745.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102983492A | 公开（授权）日 | 2013.03.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 崔国栋;李晓林;钱军;王育竹 | 主分类号 | H01S3/137(2006.01)I | IPC主分类号 | H01S3/137(2006.01)I | 专利有效期 | 饱和吸收消多普勒加宽谱线的装置 至饱和吸收消多普勒加宽谱线的装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种饱和吸收消多普勒加宽谱线的装置，包括λ/2波片、第一偏振分束棱镜、第一全反射镜、第二全反射镜、第三全反射镜、第二偏振分束棱镜、λ/4波片、样品池和探测器，本发明使泵浦光和探测光的光束基本完全重合，可以获得更高的信噪比；整个系统的空间尺度只受到光学器件和样品池大小的限制，光路安排更加紧凑、灵活，使我们可以观测到原子分子的精细能级结构的谱线。 |
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