| 专利名称 | 遵循IEEE1149.1协议的通用测试IP方法 | 申请号 | CN200610012047.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101083507 | 公开（授权）日 | 2007.12.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 吴斌;周玉梅;黑勇 | 主分类号 | H04B17/00(2006.01) | IPC主分类号 | H04B17/00(2006.01);H04L12/26(2006.01);H04L29/06(2006.01);H04M3/22(2006.01);G01R31/28(2006.01);G01R31/303(2006.01) | 专利有效期 | 遵循IEEE1149.1协议的通用测试IP方法 至遵循IEEE1149.1协议的通用测试IP方法 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本发明涉及超大规模集成电路技术领域，是一种遵循IEEE1149.1协议的通用测试IP的设计方法。根据IEEE1149.1协议对JTAG电路的规范要求，设计一个完整的测试IP体系结构，测试IP包括一套参数化的标准测试控制逻辑库，可扩展测试逻辑功能库，可配置IO逻辑功能库，并设计自动测试矢量库，所设计的参数化功能库和所提出的参数化配置方法，实现对符合IEEE1149.1协议的不同ASIC电路进行相关基本和扩 展功能测试。本发明方法对遵循IEEE1149.1协议的ASIC电路进行测试具有测试成本低廉，使用维护方便，测试对象广泛，辅助分析透明直观等特点，具有良好的推广和使用价值。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障