双层上电极有机场效应晶体管的制作方法

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专利名称 双层上电极有机场效应晶体管的制作方法 申请号 CN200910077673.6 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN101800284A 公开(授权)日 2010.08.11 申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 刘舸;刘明;刘兴华;商立伟;王宏;柳江 主分类号 H01L51/40(2006.01)I IPC主分类号 H01L51/40(2006.01)I;H01L51/10(2006.01)I;H01L21/283(2006.01)I 专利有效期 双层上电极有机场效应晶体管的制作方法 至双层上电极有机场效应晶体管的制作方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明公开了一种双层上电极有机场效应晶体管的制作方法,该方法包括:步骤1、在导电硅基底上热氧化生长绝缘介质薄膜;步骤2、在绝缘介质薄膜表面上真空蒸镀一层有机半导体材料;步骤3、通过漏版用电子束蒸发蒸镀一层金属电极;步骤4、再真空蒸镀一层有机半导体材料;步骤5、通过漏版用电子束蒸发蒸镀第二层金属电极,完成器件的制作。本发明提供的双层上电极有机场效应晶体管的制作方法,采用漏版蒸镀工艺,保证了生长的有机半导体薄膜的性能。而且,采用双层上电极结构,有效的减小了电极与沟道之间的距离,同时又保证了有源层的厚度。两层金属电极之间依靠金属粒子渗透进有机半导体材料而互连,从而不需要额外的互连工艺。

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