| 专利名称 | 电脉冲诱导的电阻可逆变化的测试系统及其应用 | 申请号 | CN200610148745.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101000365 | 公开（授权）日 | 2007.07.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 发明（设计）人 | 陈立东;吴子华;王群;尚大山 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01) | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01);G05D23/19(2006.01);G05B15/02(2006.01) | 专利有效期 | 电脉冲诱导的电阻可逆变化的测试系统及其应用 至电脉冲诱导的电阻可逆变化的测试系统及其应用 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种电脉冲诱导的电阻可逆变化的测试系统及其应用，其特征在于所述的测试系统由控制系统(1)、脉冲电压极性转换系统(2)、低温测试平台(4)、电阻测试系统(3)组成。被测试样(5)呈三明治结构，通过数字输入输出卡改变继电器的通断，实现脉冲电压极性的自动切换。本发明提供的系统用于室温或低温下EPIR效应、低温I－V特性、电阻－温度曲线以及抗疲劳特性的测试。实现了材料的稳定特性和疲劳特征的自动测试，测量误差由原先的15％减小到5％。 |
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