| 专利名称 | 稀疏微波成像方法 | 申请号 | CN201010147595.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102221696A | 公开（授权）日 | 2011.10.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 吴一戎;洪文;张冰尘;王彦平;李道京 | 主分类号 | G01S13/90(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S13/90(2006.01)I;G01S7/41(2006.01)I | 专利有效期 | 稀疏微波成像方法 至稀疏微波成像方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种稀疏微波成像方法，涉及信息获取与处理技术，利用微波成像观测的稀疏性，通过将稀疏信号处理理论引入微波成像技术，即通过寻找被观测对象的稀疏表征域，在空间、时间、频谱或极化域稀疏采样获取被观测对象的稀疏微波信号，经信号处理和信息提取，获取被观测对象的空间位置、散射特征和运动特性等几何与物理特征。本发明的稀疏微波成像方法，解决了现有技术中基于奈奎斯特采样定理和经典数字信号处理理论的微波成像体制存在系统实现困难、成像处理方法复杂、信息冗余但特征提取困难等瓶颈问题，使微波成像系统结构及成像复杂度降低。 |
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