| 专利名称 | 一种平面叶片面积无损测量系统及其方法 | 申请号 | CN200510086647.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1952599 | 公开（授权）日 | 2007.04.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 滕军;胡包钢 | 主分类号 | G01B21/28(2006.01) | IPC主分类号 | G01B21/28(2006.01);G01B11/28(2006.01) | 专利有效期 | 一种平面叶片面积无损测量系统及其方法 至一种平面叶片面积无损测量系统及其方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及平面面积测量技术领域，特别是一种 使用单幅图像，进行平面叶片面积无损测量的系统及其方法。 系统包括：图像采集单元，图像校正单元，叶片图像分割单元， 叶片面积计算单元。方法包括：通过图像采集单元得到附着在 标定板上的平面叶片图像；图像校正单元根据图像和标定板上 的同名点，计算出图像上的像素和实际物体的射影对应关系， 并且对图像进行正射校正；叶片图像分割单元将叶片的图像从 背景中分离出来；叶片面积计算单元根据射影对应关系，计算 出正射校正后的叶片图像的面积。 |
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