一种基于TiOx结构的忆阻器及其制备方法

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专利名称 一种基于TiOx结构的忆阻器及其制备方法 申请号 CN201110090834.2 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN102738387A 公开(授权)日 2012.10.17 申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 刘明;李颖弢;龙世兵;刘琦;张森;王艳;连文泰 主分类号 H01L45/00(2006.01)I IPC主分类号 H01L45/00(2006.01)I;H01L27/24(2006.01)I 专利有效期 一种基于TiOx结构的忆阻器及其制备方法 至一种基于TiOx结构的忆阻器及其制备方法 法律状态 授权 说明书摘要 本发明涉及一种基于TiOx结构的忆阻器及其制备方法。所述基于TiOx的忆阻器包括上电极和下电极,所述上电极和下电极之间设有TiOx存储介质层。本发明解决了现有忆阻器制作成本高的问题,同时该忆阻器的制作工艺简单,与传统CMOS工艺兼容性好。

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