| 专利名称 | 一种互补测量的单光子计数成像系统及方法 | 申请号 | CN201210265434.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102768070A | 公开（授权）日 | 2012.11.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明（设计）人 | 翟光杰;王超;赵清;俞文凯;刘雪峰 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 一种互补测量的单光子计数成像系统及方法 至一种互补测量的单光子计数成像系统及方法 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本发明提供一种互补测量的单光子计数成像系统及方法，该系统由光学成像部件、空间光调制器、两组会聚收光部件、可见光单光子点探测器、近红外光单光子点探测器和多通道计数器组成。该方法包括以下步骤：将携带物体信息的光成像在空间光调制器上，将图像中可见光和近红外光成分分别看成一维列向量，空间光调制器通过测量矩阵对其调制，反射至两臂方向，经会聚后，分别由可见光单光子点探测器和近红外光单光子点探测器进行双臂探测，光子计数作为测量值，根据两臂矩阵互补特性，用关联的压缩传感算法同时重建出可见光和近红外光的灰度图像。这种互补探测、以点采样获取平面信息的方法能极大提高光通量、信噪比，减少测量规模，达到理想的成像效果。 |
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