| 专利名称 | 相变存储器器件单元测试系统及测试方法 | 申请号 | CN200610028229.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1905077 | 公开（授权）日 | 2007.01.31 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 宋志棠;刘波;梁爽;陈小刚;封松林 | 主分类号 | G11C29/56(2006.01) | IPC主分类号 | G11C29/56(2006.01) | 专利有效期 | 相变存储器器件单元测试系统及测试方法 至相变存储器器件单元测试系统及测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种相变存储器器件单元的测试系 统及测试方法，其特征在于所述的测试系统是由控制计算机、 脉冲信号发生器、数字信号源、微控探针台和转换连接部件组 成；其中，通过通用接口总线使主控计算机与脉冲信号发生器 和数字信号源相连；通过控制卡的控制电缆使脉冲信号发生器 和数字信号源与微控探针台相连；主控计算机通过控制于控制 探针台在脉冲信号发生器和数字信号源之间切换；微控探针台 的两个探针分别与相变存储器的上、下电极接触，构成一个存 储单元，并通过操作模块进行电流－电压、电压－电流、电阻 与写脉高、电阻与写脉宽、电阻与擦脉高、电阻与擦脉宽以及 疲劳等七种测试。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障