| 专利名称 | 全深度探测的频域光学相干层析成像的方法及其系统 | 申请号 | CN200610028629.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1877305 | 公开（授权）日 | 2006.12.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 步鹏;王向朝 | 主分类号 | G01N21/45(2006.01) | IPC主分类号 | G01N21/45(2006.01);A61B5/00(2006.01) | 专利有效期 | 全深度探测的频域光学相干层析成像的方法及其系统 至全深度探测的频域光学相干层析成像的方法及其系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种全深度探测的频域光学相干层析成像的方 法及其系统，方法是利用正弦相位调制方法重建低相干光频域 干涉信号的复振幅量，然后对该复振幅信号作逆傅立叶变换得 到被测物体的层析图，以消除频域光学相干层析成像中存在的 复共轭镜像、直流背景和自相干噪声三种寄生像，达到扩大频 域光学相干层析成像的成像深度为原来的2倍，实现全深度探 测的频域光学相干层析成像的目的。本发明与现有技术相比具 有抗环境干扰能力强，对光源波长无关和系统结构简单的优 点。 |
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