| 专利名称 | 一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置及其应用 | 申请号 | CN201210513787.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102980903A | 公开（授权）日 | 2013.03.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 发明（设计）人 | 郭向欣;赵宁;崔忠慧 | 主分类号 | G01N23/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/20(2006.01)I;G01N23/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置及其应用 至一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置及其应用 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置及其应用。所述装置包括组件A和组件B，所述组件A包括不锈钢板a、Be玻璃窗a和绝缘板，所述不锈钢板a和绝缘板上均设有通孔，所述Be玻璃窗a位于不锈钢板a与绝缘板之间的通孔处，且通过固定不锈钢板a和绝缘板使Be玻璃窗a固定于其间；所述组件B包括不锈钢板b和Be玻璃窗b，所述不锈钢板b上设有通孔，所述Be玻璃窗b通过固定件绝缘固定在不锈钢板b的通孔内；且所述组件A与组件B间固定连接。本发明装置可实现X射线透射式或反射式进行原位或非原位测定电极材料的同步辐射X射线衍射数据，且可重复利用，具有极大的应用价值。 |
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