| 专利名称 | 采用三坐标测量仪拼接测量大口径非球面面形的方法 | 申请号 | CN201210570644.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102980532A | 公开（授权）日 | 2013.03.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 王孝坤 | 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | 专利有效期 | 采用三坐标测量仪拼接测量大口径非球面面形的方法 至采用三坐标测量仪拼接测量大口径非球面面形的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 采用三坐标测量仪拼接测量大口径非球面面形的方法，涉及一种测量大口径非球面面形的方法，解决现有对大口径非球面的检测无法采用三坐标测量仪实现检测的问题；对被检测大口径非球面的尺寸进行划分，相邻子孔径有四分之一的区域为重合区域；采用三坐标测量仪测量第一子孔径区域的数据，并在重叠区域贴上三个靶标，采用三坐标测量仪测定靶标的数据；调整被检测大口径非球面的位置，采用三坐标测量仪再次测定三个靶标的数据；移去三个靶标，获得第二子孔径区域的面形数据；采用迭代算法进行两孔径的基准统一，求解拼接因子，如果有多个子孔径，采用两两拼接的方法实现对大口径非球面面形的检测。本方法操作简单，检测成本低。 |
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