基于EDAC模块的三模冗余对存储器的容错装置

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专利名称 基于EDAC模块的三模冗余对存储器的容错装置 申请号 CN201220510022.9 专利类型 实用新型 公开(公告)号 CN202838976U 公开(授权)日 2013.03.27 申请(专利权)人 中国科学院近代物理研究所 发明(设计)人 苏弘;丁朋程;孔洁;王晓辉;赵红赟;佘乾顺;千奕;马晓莉;牛晓阳 主分类号 G11C29/42(2006.01)I IPC主分类号 G11C29/42(2006.01)I 专利有效期 基于EDAC模块的三模冗余对存储器的容错装置 至基于EDAC模块的三模冗余对存储器的容错装置 法律状态 说明书摘要 本实用新型涉及对存储器抗辐射容错技术领域,主要涉及利用FPGA实现EDAC模块的三模冗余技术对存储器单粒子翻转的容错装置与方法。一种基于EDAC模块的三模冗余对存储器的容错装置,其特征是包括有主控制器连接编码EDAC模块的并联的第一编码器、第二编码器、第三编码器,编码EDAC模块通过第一多数选举器连接存储控制器,由存储控制器连接存储器;由存储器通过存储控制器连接解码EDAC模块的三个并联的第一解码器、第二解码器、第三解码器,解码EDAC模块通过第二多数选举器连接主控制器。整个EDAC模块和多数选举器在FPGA中实现,能够有效地提高系统中存储器的抗单粒子翻转(SEU)水平。

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