| 专利名称 | 一种RFID标签排列密度的基准测试系统及方法 | 申请号 | CN201010185468.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101859396A | 公开（授权）日 | 2010.10.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 关强;刘禹 | 主分类号 | G06K17/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G06K17/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种RFID标签排列密度的基准测试系统及方法 至一种RFID标签排列密度的基准测试系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种RFID标签排列密度的基准测试系统及方法，由测试控制器、频谱分析仪、标准读写器信令单元、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、基底板、基底板支架组成，在输入能量相同的情况下，通过测量RFID标签在不同排列方式和不同排列密度下反向散射信号与标签单独存在时反向散射信号的对比来评价该款测试标签在多标签部署时所受到的相邻标签干扰程度。利用该测试系统与方法，可以协助使用者在RFID部署前即根据应用环境中物品摆放的特点选择相互干扰更小和能量转换效率更高的RFID标签。进而为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。 |
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