专利名称 | 一种实时检测单光子偏振量子态的装置与方法 | 申请号 | CN201010565062.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开(公告)号 | CN102080988A | 公开(授权)日 | 2011.06.01 | 申请(专利权)人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明(设计)人 | 狄慧鸽;王建宇;舒嵘;何志平 | 主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种实时检测单光子偏振量子态的装置与方法 至一种实时检测单光子偏振量子态的装置与方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种实时测量单光子光束偏振状态的测试装置及方法,该装置包括测试系统和定标系统两部分。该测试装置利用能量分光镜和相位分光镜将被测光束分为四束,分别由四个单光子探测器对输入信号进行探测。利用定标装置获取系统的最优仪器矩阵;在测试时根据仪器矩阵和测试信号能得到被测信号的斯托克斯矢量。本发明的优点是:系统中无转动部件,测试速度快;测试系统充分的利用了被测试光束的能量,可用于单光子或极微弱光束的偏振状态检测;系统中有可变相位补偿器,能获取最优的系统仪器矩阵,测试精度高,结果可靠。 |
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