| 专利名称 | 一种单通道多参数表面等离子体谐振测试仪 | 申请号 | CN200510053510.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1831527 | 公开（授权）日 | 2006.09.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 崔大付;王军波;蔡浩原;王于杰 | 主分类号 | G01N27/62(2006.01) | IPC主分类号 | G01N27/62(2006.01);G01N27/00(2006.01);G01N29/00(2006.01);G01N21/00(2006.01);G01H3/00(2006.01) | 专利有效期 | 一种单通道多参数表面等离子体谐振测试仪 至一种单通道多参数表面等离子体谐振测试仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明一种单通道多参数表面等离子体谐振 (SPR)测试仪属于测试仪器技术领域。该测试仪，包括控制系 统、光学系统、机械扫描系统、流通系统及表面等离子体谐振 芯片、信号采集处理软件和系统操作控制软件等部分，构成完 整的表面等离子体谐振测试系统，其中，机械扫描系统实现角 度调制，进行角度和光强信号检测；采用两单元或多单元表面 等离子体谐振芯片，待测样品经单通道流过芯片时，可给出对 应的双参数或多参数检测结果。本发明的测试仪结构简单，操 作简便，可设定参比单元检测或多参数自动化测试，测试数据 可靠、精确。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障