用电子束大小电流混合一次曝光制备X射线掩模的方法

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专利名称 用电子束大小电流混合一次曝光制备X射线掩模的方法 申请号 CN200510008009.8 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN1818789 公开(授权)日 2006.08.16 申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 刘明;叶甜春;谢常青;张建宏 主分类号 G03F7/20(2006.01) IPC主分类号 G03F7/20(2006.01);H01L21/027(2006.01) 专利有效期 用电子束大小电流混合一次曝光制备X射线掩模的方法 至用电子束大小电流混合一次曝光制备X射线掩模的方法 法律状态 授权 说明书摘要 本发明提供一种采用电子束大小电流混合一次 曝光制备X射线掩模的方法。该方法,将电子束曝光版图剖分 为二部分,即精细图形和其它的大图形;将剖分后的大小版图 图形按不同条件进行转换;用二个不同的路径编辑曝光文件; 对剖分后的大小版图图形分别赋予不同的工作参数(EOS)表; 对剖分后的大小版图图形分别赋予不同的曝光剂量和曝光电 流;将二次曝光的初始位置和剖分后的大小版图图形的版架位 置设定为同一值。本发明在使用电子束制备X射线掩模时,在 保证电子束的高分辨率时也大大提高了其效率。

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