高强度、低介电常数的二氧化硅结合的氮化硅多孔陶瓷及制备方法

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专利名称 高强度、低介电常数的二氧化硅结合的氮化硅多孔陶瓷及制备方法 申请号 CN200610024146.5 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN1810719 公开(授权)日 2006.08.02 申请(专利权)人 中国科学院上海硅酸盐研究所 发明(设计)人 曾宇平;丁书强;江东亮 主分类号 C04B35/584(2006.01) IPC主分类号 C04B35/584(2006.01);C04B38/00(2006.01);C04B35/622(2006.01) 专利有效期 高强度、低介电常数的二氧化硅结合的氮化硅多孔陶瓷及制备方法 至高强度、低介电常数的二氧化硅结合的氮化硅多孔陶瓷及制备方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明涉及一种以高纯度、低介电常数的二氧化 硅结合的 Si3N4多孔陶瓷及制备方法,其特征在于石墨为造孔剂、以外加 或氮化硅颗粒表面氧化生成的二氧化硅为结合相的氮化硅多 孔陶瓷利用外加和氮化硅颗粒表面氧化生成的二氧化硅在高 温下的烧结把氮化硅颗粒结合起来,利用粉料颗粒堆积成孔或 造孔剂氧化烧除成孔,从而得到二氧化硅结合的氮化硅多孔陶 瓷。 Si3N4∶SiO2∶石墨=0~100∶ 0~30∶0~25(重量比),加入酚醛树脂和乙醇,混合后球磨、 烘干、研磨、过筛、干压成型,然后在空气中烧成,得到二氧 化硅结合的氮化硅多孔陶瓷。所得多孔陶瓷的抗弯强度可达 137MPa,总孔隙率10~60%,常温介电常数2~7(1GHz),可 用于常温和高温环境下使用的天线罩、催化剂载体等材料。

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